【摘要】 质谱测试正负离子模式是什么?测试的是同样一个位置吗?

在做TOF-SIMS测试时,科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到,好多同学对此项目不太了解,针对此,科学指南针检测平台组织相关同事对TOF-SIMS测试进行问题收集并整理,希望可以帮助到科研圈的伙伴们;

 

 1. 质谱测试正负离子模式是什么?测试的是同样一个位置吗?

TOF-SIMS是采用初级离子源(Bi源)入射样品的表面激发出材料里的离子,通常给样品加不同偏压分别采集正离子或负离子,金属离子主要在正离子模式产额比较高,而电负性元素如O\OH\F\Cl\S\N\Br等在负离子模式产额高,如果组分有金属氧化物,比如NiO, 那一定会在正离子模式产生Ni原子离子,以及NixOy的分子离子,而负离子模式一定有O原子离子,同时也有NixOy的分子离子,当然在正离子模式下大多数情况 x>y, 负离子模式下x<y,  这个案例中也有NiOH这样的离子,说明有可能有氢氧化物存在。

 

2. TOF-SIMS可以看含量不??应该怎么做?

正常TOF-SIMS是看不了含量的,数据横坐标是M/Z,纵坐标是强度/计数。理由如下:强度与含量是没有直接关系的。首先,同种基材不同离子的产额不同,产额高的谱峰强度高,但并不代表含量高,也就是说谱峰强弱与含量没有直接对应关系,如果要定量必须选用与测试样品基体效应相同的标准样品,得到灵敏度因子才可以定量!第二,同种离子在不同基体材料中的离子产额也不同,所以同一样品不同离子谱峰强度与含量无关,同种离子在不同材料中的谱峰强弱也与含量无关,只有同种材料的不同样品中的同种离子可以比较,谱峰强度高代表含量高。做深度溅射曲线可以看随深度方式,分子片段的相对变化趋势。

 

3. 测试的是同样一个位置吗?

是的。默认测试同样可以位置的正负离子模式。

 

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