TOF-SIMS(二次离子飞行时间质谱仪) 仪器详情

      丁老师

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      预约须知

      粉末样品50mg即可,块状样品长宽1.1cm以内,厚度5mm以内,不能太大,小一些没有问题。如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人,需要真空封装好提前预约时间测试。

      TOF-SIMS(二次离子飞行时间质谱仪)
      测试项目:

      质谱、面扫、深度剖析

      样品要求:

      深度剖析只能是块体样品,长宽1cm,厚度不超过5mm;

      粉末只能做质谱或者面扫,液体等粘性样品无法测试。

      常见问题及回答:
      结果展示:

      1、质谱

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      2、面扫


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      3、深度剖析


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