TOF-SIMS(二次离子飞行时间质谱仪)
仪器负责人

丁老师
400-831-0631

预约须知

粉末样品50mg即可,块状样品长宽1.1cm以内,厚度5mm以内,不能太大,小一些没有问题。如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人,需要真空封装好提前预约时间测试。

预约仪器
TOF-SIMS(二次离子飞行时间质谱仪)
测试项目:

质谱、面扫、深度剖析

样品要求:

深度剖析只能是块体样品,长宽1cm,厚度不超过5mm;

粉末只能做质谱或者面扫,液体等粘性样品无法测试。

常见问题及回答:
结果展示:

1、质谱

image.png

2、面扫


image.png


3、深度剖析


image.png



image.png