TOF-SIMS(二次离子飞行时间质谱仪)

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      TOF-SIMS(二次离子飞行时间质谱仪)

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      仪器型号 TOF-SIMS 5 iontof ,PHI NanoTOFII
      预约次数 308次
      服务周期 6.8个工作日
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      专业可信赖
      硕博顾问团队
      信用支付
      先测试后付费
      高性价比
      保质又低价
      做实验送积分
      积分可兑京东卡等
      报销无忧
      正规合同发票

      项目简介

      质谱、面扫、深度剖析。

      sims的数据的纵坐标是计数,是强度,不同离子的产额不同,产额高的谱峰强,并不代表含量高,简单说就是强度和含量没有什么直接关系;

       

      结果展示

      1、质谱

      2、面扫

      3、TOF-SIMS 5 iontof--快递交替模式--深度剖析

      深度曲线-相对应的3D图

      4. PHI Nanotof

       

      样品要求

      深度剖析只能是块体样品,长宽1cm,厚度不超过5mm;

      粉末只能做质谱或者面扫,液体等粘性样品无法测试。

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