搜索
      预存 发布需求
      下单:TOF-SIMS（二次离子飞行时间质谱仪） 仪器详情

      预约须知

      查看

      粉末样品50mg即可，块状样品长宽1.1cm以内，厚度5mm以内，不能太大，小一些没有问题。如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人，需要真空封装好提前预约时间测试。

      负责人
      联系方式 查看

      丁老师

      咨询热线

      400-831-0631

      TOF-SIMS（二次离子飞行时间质谱仪）
      型号：
      TOF-SIMS 5 iontof
      测试项目：

      质谱、面扫、深度剖析

      样品要求：

      深度剖析只能是块体样品，长宽1cm，厚度不超过5mm；

      粉末只能做质谱或者面扫，液体等粘性样品无法测试。

      常见问题及回答：
      结果展示：

      1、质谱

      image.png

      2、面扫


      image.png


      3、深度剖析


      image.png



      image.png
















































      杭州研趣信息技术有限公司 浙ICP备15010793号-1 服务热线：400-831-0631（周一至周五9:00—17:30）

      浙江省杭州市西湖区西溪路525号浙大科技园A座西区216