下单:TOF-SIMS(二次离子飞行时间质谱仪) 仪器详情

      预约须知

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      粉末样品50mg即可,块状样品长宽1.1cm以内,厚度5mm以内,不能太大,小一些没有问题。如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人,需要真空封装好提前预约时间测试。样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性。建议,样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装。

      负责人
      联系方式 查看

      丁老师

      咨询热线

      400-831-0631

      TOF-SIMS(二次离子飞行时间质谱仪)
      测试项目:

      质谱、面扫、深度剖析。

      sims的数据的纵坐标是计数,是强度,不同离子的产额不同,产额高的谱峰强,并不代表含量高,简单说就是强度和含量没有什么直接关系;


      样品要求:

      深度剖析只能是块体样品,长宽1cm,厚度不超过5mm;

      粉末只能做质谱或者面扫,液体等粘性样品无法测试。

      常见问题及回答:
      结果展示:

      1、质谱

      image.png

      2、面扫


      image.png


      3、TOF-SIMS 5 iontof--快递交替模式--深度剖析

      深度曲线-相对应的3D图


      image.png

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      4. PHI Nanotof

      图片.png
















































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