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      下单:TOF-SIMS（二次离子飞行时间质谱仪） 仪器详情

      预约须知

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      粉末样品50mg即可，块状样品长宽1.1cm以内，厚度5mm以内，不能太大，小一些没有问题。如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人，需要真空封装好提前预约时间测试。

      负责人
      联系方式 查看

      丁老师

      咨询热线

      400-831-0631

      TOF-SIMS（二次离子飞行时间质谱仪）
      型号：
      TOF-SIMS 5 iontof
      测试项目：

      质谱、面扫、深度剖析

      样品要求：

      深度剖析只能是块体样品，长宽1cm，厚度不超过5mm；

      粉末只能做质谱或者面扫，液体等粘性样品无法测试。

      常见问题及回答：
      结果展示：

      1、质谱

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      2、面扫


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      3、深度剖析


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