【摘要】 X射线荧光元素分析仪具有成本低、分析元素范围广、样品形态不受约束等优势，广泛运用于铜矿石元素的定量分析。

铜矿被广泛应用于现代工业、现代国防，在国民经济中扮演着重要的角色，具有重大的经济意义及战略意义。近年来，铜矿资源的需求日益增加，开发力度加大，有限的铜矿元素分析技术导致开发中出现一系列环境污染和资源浪费问题。因此，精确分析铜矿元素含量对实现其科学开采与高效利用十分关键。X射线荧光元素分析仪具有成本低、分析元素范围广、样品形态不受约束等优势，广泛运用于铜矿石元素的定量分析。然而，在实际的分析中，铜矿石组分复杂、元素间的基体效应等因素导致测量谱图存在连续谱本底、谱线强度与含量间关系呈非线性，大大降低了元素定量分析的准确度。研究了光谱本底扣除的方法，并提出了一种基于变分模态分解的本底扣除算法。该算法通过不断迭代减小本底上方信号峰值的影响，直到拟合收敛到接近真实本底，通过本底扣除获得校正光谱。本文根据铜矿光谱的特点及大量的实验分析确定了VMD分解层数、模态分量等参数的选择。基于模拟光谱、铜矿石光谱、合金光谱等多组实验证明，相比于现有算法，所提算法在去除矿样复杂光谱本底方面具有显著效果，提高了测量光谱的准确性。XRF测试结果表明，利用模拟光谱协助SVR模型训练并预测真实样本的Cu元素，其决定系数从0.85提高到0.92，验证了该方法的有效性。为基于XRF测试的铜矿元素含量准确分析提供了技术支撑。

 

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