XRF测试简介

项目简介

XRF测试的全称为X射线荧光光谱仪，进行测试的仪器型号为PANalytical Axios、RIGAKU ZSX Priums。XRF测试支持两种分析方式:定性分析和定量分析，定性分析的物理基础就是莫塞莱定律，通过不同元素的特征X荧光找到对应元素；定量分析是将未知样的荧光强度与用来建立校正曲线的标准样品的荧光强度和相对应的浓度建立相应关系，以此求得未知样的浓度。

可测元素范围：常规测试范围11Na-92U，部分仪器可以测到O元素，如果需要测到O需要备注好

制样方法：压片、融片

结果模式：单质、氧化物

一般是半定量测试，可测试的深度是毫米级，可作为一种快速的无损分析。

结果展示

测试结果给出的是txt格式或者word版测试结果。如下图分别为单质和氧化物模式的测试结果。

结果中Sx是总硫

常见问题

1.为什么要求XRF测试粉末样品用量最好达到3g以上？

因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。

2.为什么XRF测试要求薄膜（块体）样品尺寸直接要大于2.5 cm？

因为放置薄膜（块体）样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。

3.XRF测试可以精确到多少？

XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。

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