X射线荧光光谱仪（XRF）
98.9%
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仪器型号
PANalytical Axios； RIGAKU ZSX Priums
预约次数
11781次
服务周期
收到样品后平均2.4-5.0工作日完成
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项目简介
可测元素范围：常规测试范围11Na-92U，部分仪器可以测到O元素，如果需要测到O需要备注好
制样方法：压片、融片
结果模式：单质、氧化物
一般是半定量测试，可测试的深度是毫米级，可作为一种快速的无损分析。
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结果展示
测试结果给出的是txt格式或者word版测试结果。如下图分别为单质和氧化物模式的测试结果。
结果中Sx是总硫
样品要求
1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品：粉末样品需要至少2 g ，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，可以过200目筛的样品无需研磨；含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试
3. 块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整）
常见问题
1. 为什么要求XRF测试粉末样品用量最好达到3 g以上？
因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。
2. 为什么XRF测试要求薄膜（块体）样品尺寸直接要大于2.5 cm？
因为放置薄膜（块体）样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。
3. XRF测试可以精确到多少？
XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。
