【摘要】 这两个薄膜结构参数只能从原始印刷的双锥形锐钛矿纳米粒子NP薄膜中获得，这意味着该层的颗粒没有发生刮擦或溶解。

双锥形锐钛矿纳米粒子NP薄膜的内部结构是影响电池效率的重要参数。更具体地说，薄膜的自由表面积和开孔率是非常重要的，其中孔隙率决定了敏化剂溶液的体积，它可能会渗透到二氧化钛薄膜中；而表面积决定了可以吸附在薄膜孔壁上的敏化剂的量。

这两个薄膜结构参数只能从原始印刷的双锥形锐钛矿纳米粒子NP薄膜中获得，这意味着该层的颗粒没有发生刮擦或溶解。可以通过多种方法测量具有足够空间分辨率的纳米级孔隙率，例如吸附技术或断层扫描技术。例如椭圆测量、纳米计算机断层扫描(nanoCT)、X 射线技术（XRF、EDX和SEM）或FIB断层扫描等技术更适合层解剖。FIB是一种逐片进行的铣削技术，能够对制造的横截面表面进行重复SEM成像。通过对研究结构的某些部分进行重建，可以计算孔隙率或表面积等层参数。Wargo等人对多孔材料纳米CT和FIB断层扫描进行了详细的比较，并研究了这两种技术对材料系统的分析强度。由于他们的研究是在微米厚的薄膜上进行的，而不是在散装材料上进行的，因此高分辨率SEM显微照片有利于捕获层厚度内的所有孔隙。关于FIB断层扫描的大量文献报道了它们的应用可变性，例如，合金的微观结构表征、沉淀物的定位和量化、纳米压痕的堆积研究、纳米棒和纳米丝的形态学研究或重建固体氧化物燃料电池或电池组的多孔网络等。从这些报告中，能够确定所得产品加工过程中的巨大差异。

 

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