聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM） - 科学指南针_中国科研仪器预约第一站,海量仪器,免费试样,上门取样,免费复测,速度保障,价格实惠

聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）

仪器负责人

王老师
400-831-0631

预约须知

样品要求：

1、无磁性、无挥发性，固体、块体尺寸最好小于20mm。

2、样品要求导电性良好，如果导电性比较差的话需要进行喷金或喷碳处理。

聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）

测试项目：

用途及功能：

1. 定点剖面形貌和成分表征

2. TEM样品制备

3. 微纳结构加工

4. 芯片线路修改

5.切片式三维重构

6.材料转移

7.三维原子探针样品制备

适用领域：

结构分析、材料表征、芯片修补、生物检测、三维重构、材料转移等，该系统可适用于横截面和断层扫描，3D分析，TEM样品制备及纳米图形加工；

样品要求：

1、无磁性、无挥发性，固体、块体尺寸最好小于80mm（快速进样最大尺寸）

2、样品要求导电性良好，如果导电性比较差的话需要进行喷金或喷碳处理

常见问题及回答：

结果展示：

1、图案加工

2、TEM样品制备

3、定点剖面分析

4、三维重构