低电压透射电镜(TEM)-云现场
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项目简介
低压透射电子显微镜(Low-Voltage TEM)是一种在较低加速电压(通常为10–120 kV)下工作的透射电子显微技术,特别适用于对电子束敏感材料的高分辨成像与结构分析。该技术可显著降低电子束对样品的辐照损伤,广泛应用于有机材料、聚合物、金属有机框架(MOFs)、二维材料、生物样品、纳米催化剂及软物质等易损体系的微观结构表征。同时,低压TEM有助于增强轻元素的衬度,提升图像对表面和界面细节的敏感性,在材料科学、纳米技术、能源存储、生命科学及半导体等领域具有重要应用价值,尤其在研究辐照敏感过程(如原位反应、结构演化、界面形成等)中展现出独特优势。
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样品要求
1.样品的厚度不超过100nm,如果颗粒稍大一点,可适当研磨至100nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小);
2. 一般制样选微珊铜网即可,如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样;样品含Cu,需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等;薄膜或块状样品需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等)
3. 磁性样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样
常见问题
1. 一个样品会提供几张图片?默认拍摄逻辑如何?
每样品15张左右,具体根据样品的拍摄情况而定;拍摄逻辑一般是选取2-3个有代表性的区域,具体区域逐级放大拍摄。
2. JPG、TIFF、DM3的区别是什么?
JPG和TIFF均是图片格式,可以直接打开,也可以用DM软件处理; DM3格式是Gatan公司的特有格式,配有DM软件打开分析处理。







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