【摘要】 在化学分析中，干扰问题是影响分析数据准确度最重要的因素之一，ICP-AES法也不例外，同样存在干扰问题。

（3）干扰的排除

在化学分析中，干扰问题是影响分析数据准确度最重要的因素之一，ICP-AES法也不例外，同样存在干扰问题。因此寻找合适的方法消除干扰是样品检测不可缺 少的工作。在ICP-AES法中常用的干扰校正方法有基体匹配法、内标法、多元光谱拟合（MSF）校正法及元素间干扰系数校正法。

基体匹配法是目前最常用的分析方法，它可以消除在分析过程中出现的化学干扰和物理干扰。用ICP-AES测定钛合金中稀土元素La、Ce和Y，样品用硫酸或硫酸-氢氟酸溶解，选择398.852nm、394.274nm和371.092nm波长谱线分别作为 La、Ce和Y的分析线，采用基体匹配方法消除基体效应对测定的影响。

内标法是利用待测元素和内标元素谱线的强度比与待测元素浓度绘制校准曲线来进行分析的。

多元光谱拟合（MSF）校正法是一种多变量方法，在多个波长下记录信号响应值，利用多元线性回归和最小二乘法进行数学处理从而区分出分析信号、干扰信号以及背景值，有效地利用ICP的光谱信息校正光谱干扰，改善方法精密度和检出限[1]。它是一种校正多种基体干扰的方法，是Optima型光谱仪操作软件的自有功能。除此之外，Vista-MPX光谱仪的FACT软件也具有类似功能，可 以在分析谱线附近存在其他谱线干扰的情况下，自动拟合出一条背景基线，扣除它对分析谱线的干扰。

 

[1]沈兰荪,白梅.ICP-AES中光谱干扰及其校正方法的研究[J].光谱学与光谱分析,1990(03):72-76.

[2]周西林,王娇娜,刘迪,梁波,黄晴晴.电感耦合等离子体原子发射光谱法在金属材料分析应用技术方面的进展[J].冶金分析,2017,37(01):39-46.

[3]杨倩倩,何淼,彭霞.电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法测定高温合金中5种非金属元素[J].中国无机分析化学,2015,5(04):53-55.

 

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