【摘要】 本文深入探讨原位XPS和ISIXPS在S型光催化剂中的应用原理,科学指南针提供专业原位XPS测试,支持先测后付,已服务3000+样品。

原位X射线光电子能谱(XPS)技术是材料表面分析的重要工具,尤其在光催化剂研究中发挥着关键作用。近年来,随着S型光催化剂的兴起,原位辐照XPS(ISIXPS)成为揭示电子传递机理的有效手段。本文将从XPS基础原理入手,逐步解析ISIXPS的工作机制,并探讨其在S型光催化剂中的应用前景。如果您需要专业的原位XPS测试服务,科学指南针提供全面的支持,包括PHI、美国Thermofisher等先进仪器,帮助研究人员高效完成实验。

 

XPS基本原理:表面元素分析的基石

XPS是一种高灵敏度的表面分析技术,通过测量光电子的动能来识别样品表面的元素组成、化学价态和分子结构。在XPS测量过程中,样品被置于超高真空环境中,受到高能X射线照射。X射线激发样品内层电子,使其克服结合能束缚而逸出表面,形成光电子。这些光电子的动能与元素的特征结合能相关,从而实现对元素的定性和定量分析。

图1. (a) XPS测量原理。(b) XPS测量过程中光电子的产生过程。(c-e)碳原子失去或接受电子后的结构。 [1]

例如,原子轨道从内到外分为1s、2s、2p等,内层电子(如1s轨道)的结合能较高,需要更强能量激发。XPS测量中,通过分析光电子谱峰,可以精确获取元素信息。科学指南针的原位XPS测试服务已积累3047个样品案例,常规周期仅6个工作日,支持先测后付,为科研人员提供可靠保障。

 

ISIXPS机制:光照下的电子动态追踪

ISIXPS在原位条件下(如变温、通气或辐照)结合X射线和紫外-可见光同时照射样品,从而监测光激发引起的电子转移过程。与常规XPS不同,ISIXPS在测量时,UV-可见光激发价电子从价带跃迁至导带,而X射线则激发内层电子逸出。分析仪检测的是内层电子结合能的变化,这些变化反映了光照下电子密度的重新分布。

图2. (a) ISIXPS测量原理。 (b) ISIXPS测量期间电子的激发过程。(c) s型光催化剂在光激发下的电子密度和元素Eb的变化。[1]

在S型光催化剂中,ISIXPS能够直观展示异质结界面电子转移途径。例如,当光催化剂受光激发时,给体材料的价电子跃迁,导致元素结合能偏移,从而验证电子从还原型半导体向氧化型半导体的转移。科学指南针的ISIXPS测试支持多种条件模拟,如辐照和变温,帮助用户深入探究机理。

 

应用与展望:从光催化剂到多领域扩展

XPS和ISIXPS不仅适用于S型光催化剂的电子传递研究,还可扩展到染料敏化半导体、贵金属修饰体系等。通过监测结合能变化,研究人员能精准判断界面相互作用,为光催化材料设计提供依据。科学指南针凭借硕博顾问团队和信用支付服务,已助力多篇高分论文发表,如Advanced Energy Materials(IF=26)等,用户注册即可享受200元优惠。

总之,原位XPS技术是推动光催化研究的重要工具。科学指南针作为专业测试平台,提供原位XPS一站式解决方案,涵盖样品制备、数据分析和报告出具。立即拨打400-831-0631或官网预约,开启您的高效科研之旅。

 

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参考文献:(1) Zhang, J.; Zhang, L.; Wang, W.; Yu, J. In Situ Irradiated X-ray Photoelectron Spectroscopy Investigation on Electron Transfer Mechanism in S-Scheme Photocatalyst. The Journal of Physical Chemistry Letters 2022, 13 (36), 8462-8469.