【摘要】 然后他们想再一次进一步验证物性综合测量系统系统在实际应用中的性能参数，使用同样的方法对Bi2223进行了同样的测试。

Hongjin Wang [1]等为了能使样品可以适应在物性综合测量系统中的较小的样品空腔中测量，选用了卡玛箔式应变片来源于中航电测公司。这种应变片的敏感栅尺寸为:1.1×1.0 mm，它的灵敏度系数为K=1.87±1%,型号是:BB(BAB)300-1AA-W250(11)。用环氧树脂作为样品的贴片胶水。

 

由于这种应变片又小又薄,使其容易贴在结构材料上,而当材料产生应变，由于温度的变化的时候，贴在上面的应变片也发生了相应的改变，因此应变片的电阻也因此发生了改变，那么材料的应变ε近似的可以看为:ε=ΔL/L=ΔR/(K×R)。

 

公式中,材料初始的长度是L,材料变化的长度是ΔL,应变片的初始电阻是R,应变片变化的电阻是ΔR，温度293K是所设定的初始状态的温度。

 

他们利用可以控制的低温强磁场环境（得益于综合物性测量系统），传感器是应变片，以直流电桥来控制放大信号，在经过数字万用表测量数据，最终经过电脑来采集处理最终的数据，最后终于实现了在极端的低温的条件下的应变的测量。

 

然后他们想再一次进一步验证物性综合测量系统系统在实际应用中的性能参数，使用同样的方法对Bi2223进行了同样的测试。这种Bi2223导体材料购买自美国超导公司，最终的测试结果表明它的应变能力数据与购买时的参数相同。

 

那么这样的测试参数说明了这一台系统可以用于超导体应变的测量。

 

[1] Hongjin Wang, Xiping Zhang, Dongliang Wang et al. Application of comprehensive physical property measurement System to strain measurement of superconducting materials [J]. Science and Technology Information,2013(09):105-106.

 

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