【摘要】 孔隙度分析在多孔水泥基材料(pcbm)微观结构表征领域具有重要意义，因为它与材料的力学性能和耐久性密切相关。

孔隙度分析在多孔水泥基材料(pcbm)微观结构表征领域具有重要意义，因为它与材料的力学性能和耐久性密切相关。由于密实材料的孔隙结构表征在很多方面都面临着困难，因此了解pcbm的真实孔隙结构一直是一项具有挑战性的任务。测量多孔材料孔隙度、平均孔径、阈值孔径和孔径分布最广泛的技术之一可能是压汞法(MIP)。MIP主要具有物理基础清晰简单、样本量较大、测量速度快、孔隙范围宽(取决于最大施加压力)等优点，被广泛应用于pcbm等多孔材料的孔隙结构表征。

汞侵入孔隙法(MIP)测试后汞在多孔材料中的捕获被广泛报道，但捕获汞的特征尚不清楚。Zeng等人[1]报道了一项用X射线计算机断层扫描(X-CT)测定多孔水泥浆中汞的实验研究。MIP测试在三种不同的最大入侵压力下进行。结果表明，表面一致性控制可以显著抑制喉道尺寸分布的首次上升，降低喉道尺寸的阈值。由于汞的高质量衰减系数，X-CT可以很容易地追踪捕获的汞滴。捕获和释放的汞滴只占侵入孔隙的有限体积分数。表面的一致性可以减少从孔隙中释放的汞体积。总的来说，多孔样品的部分表面涂层是MIP消除表面一致性效应的必要条件；X-CT可以追踪宏观孔隙中的汞，以视觉方式补偿孔隙结构表征。MIP后X-CT测试可以加深对MIP方法学方面的认识，有助于我们更全面地表征多孔水泥浆体的孔隙结构。除此之外，通常可以设想通过MIP和X-CT的组合技术使用类似的分析策略来表征除pcbm以外的多孔材料的微观和孔隙结构。

[1] Zeng J. Tracing mercury entrapment in porous cement paste after mercury intrusion test by X-ray computed tomography and implications for pore structure characterization[J]. Materials Characterization, 2019, 151.

 

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