【摘要】 电阻点焊(RSW)接头的敏化程度(DOS)是受热影响区(HAZ)的晶间腐蚀(IGC)和穿晶腐蚀(TGC)以及焊核(WN)的枝晶间腐蚀的综合影响

电阻点焊(RSW)接头的敏化程度(DOS)是受热影响区(HAZ)的晶间腐蚀(IGC)和穿晶腐蚀(TGC)以及焊核(WN)的枝晶间腐蚀的综合影响[1]。DOS通过电化学动电位再激活(EPR)测试进行评估。优化了EPR试验在RSW接头中的应用,并使用电化学微型电池研究了热输入对WN中IDC的影响。试验的实验程序如下:在开路(OC)电位下延迟5分钟,脱气,在−220 mVSCE(饱和Calomel电极)下阳极侵蚀2分钟,在VOC下延迟2分钟,以−600 mVSCE进行阴极清洁1分钟,在挥发性有机物下延迟5分钟。钝化通过施加200mVSCE 2分钟来完成。再激活扫描从200mV开始,直到以100mV/分钟的速率低于VOC 50mV。VOC值取决于测试的RSW接头,在−361和−440 mVSCE之间变化。当EPR试验在同一RSW接头上重复几次时,VOC的变化不是很显著。EPR测试池具有两个高纯度碳辅助(反)电极和一个饱和甘汞电极,它们位于RSW接头试样前方,距离为4mm。实验证明,在某些EPR曲线中出现的再激活前的双峰是由于RSW接头的缺口引起的。通过改变电解质成分来优化EPR试验在RSW接头中的应用,电解质成分的硫氰酸钾浓度是ASTM标准G-108的三倍。热量输入和DOS之间关系的复杂性使得很难从热量输入预测DOS,这是由于不可能知道热量输入的准确值以及DOS是HAZ中IGC和TGC以及WN中IDC的综合效应。通过使用小型电化学电池(微型电池)来研究热输入对IDC的影响,该电池允许在WN内部的区域进行EPR测试。IDC随着热输入的增加而降低,因为随着热输入增加,冷却速率降低,因此,WN枝晶间区域中δ-铁氧体的量减少。热输入对HAZ中IGC和TGC的影响取决于之前的冷加工,IGC随着热输入的增加而增加,这消除了先前寒冷的迹象,从而有利于随后的IGC,热影响区随着热输入的减少而增加,因为热影响区保持了先前冷态的迹象,从而有利于随后的热影响区。当DOS没有达到一定的重新激活阈值时,就会出现缺乏重新激活的情况。

[1] D. Özyürek An effect of weld current and weld atmosphere on the resistance spot weldability of 304L austenitic stainless steel Mater. Des., 29 (2008), pp. 597-603

[2] S.M. Tabatabaeipour, F. Honarvar A comparative evaluation of ultrasonic testing of AISI 316L welds made by shielded metal arc welding and gas tungsten arc welding processes J. Mater. Process. Technol., 210 (2010), pp. 1043-1050

 

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