常规XRD数据分析

项目简介 常规XRD数据分析可以做结晶度计算，晶粒尺寸计算，物相鉴定，晶面标注，全岩/黏土分析。

 结晶度计算说明： 相对结晶度的计算采用如下公式 式中：Ic为结晶峰的积分强度，Ia为非晶峰的积分强度；计算过程中，将半高宽（FWHM）大于3°的衍射峰标定为非晶峰。 拟合软件为Jade，将数据导入Jade，对测试范围内的衍射峰进行全谱拟合，使用pseudo-Voigt函数描述衍射峰；对于有PDF的物相，直接使用PDF进行拟合；如无，采用直线背地，寻峰并进行拟合。最终得出结晶峰以及非晶峰积分面积数值，进行结晶度计算。 晶粒尺寸计算说明： 晶粒尺寸的计算采用谢乐公式： 式中：D为晶粒尺寸（nm）；K为Scherrer常数，其值为0.89；B为积分半高宽度，θ为衍射角；λ为X射线波长，为0.154056 nm 。

定量分析说明： 先用 PANalytical Highscore Plus© (V4.8) 软件，ICDD PDF 4+ 2019数据库对数据进行物相鉴定，得到物相信息。然后利用TOPAS V6软件，采用Rietveld法进行定量分析(QPA)。此方法为外标定量法，采用高结晶性（99wt%）刚玉样品作为标准。

要求测试速率最快2度/min，太快影响测试分析结果，一般测试速率低，获得的谱图准确性越高。

定量分析主要针对矿物定量分析，方法是基于rietveld的精修定量，为非标定量；需要加标准物定量的需要测试的时候掺入一定量的内标物。对于矿物样品XRD物相比较多，峰相对比较多而杂，因此我们做定性和定量分析提供报告、作图原始数据和软件截图，不提供origin作图；若确实需要我们用origin作图费用上增加200，请知晓；

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