【摘要】 通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

科学指南针可为您提供X射线衍射仪技术（XRD）服务，X射线衍射仪技术(X-ray diffraction，XRD)。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

 

XRD测试作为常用测试之一，但仍有许多同学不太了解，本篇文章由科学指南针给大家介绍粉末XRD射线衍射的项目归类。


广角XRD

广角、小角XRD因测试角度范围而得名，广角即测试范围为10-120 °，常规广角测到90 °即可，有机材料或者有机金属配位材料一般测到四五十度也是可以的。广角XRD是最常用到的测试条件，有机、无机材料判断晶型、物相类型、PDF卡片等基本都是通过广角XRD测试得到的谱图分析得到的。一般大家口中的XRD，没有特别说明测试条件的都是指的广角XRD，有时为了区别于块体薄膜这些样品形态的，也叫PXRD，即粉末XRD。


小角XRD

小角XRD和广角XRD对应，即测试低角度区域，称为小角XRD，测试范围一般为0.5-10 °。小角XRD一般可以探测到更多的微观信息，比如介孔样品除了做物理吸脱附的表征，也可以通过测试小角XRD验证介孔是否规整。


变温XRD

变温XRD，顾名思义，就是改变温度测试XRD， 可测温度范围是95 K-1200℃，测试气氛可以是空气、氮气、氩气、真空或者二氧化碳。一般情况下需要设置测试的温度点，如室温、100 ℃、300 ℃、500 ℃等，升温速率以及XRD的角度测试范围。此外，还要求样品在测试温度范围内不熔化。


微区XRD

微区XRD可以测试指定某个区域的XRD谱图，但是测试区域需要大于等于0.5 mm，不能太小。另外测试角度范围默认是5-90 °，其他角度需要先和指南针老师沟通后再做决定。比如需要测试块体样品（尺寸要求是长宽一般1-2 cm，厚度不超过5 mm）上面某一个或一些小区域的XRD，就可以用微区XRD来测试。


掠入射XRD

掠入射XRD（GIXRD）是专门用来测试薄膜样品的手段。测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底，因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。薄膜尺寸没有特别要求，但是需要测试面平整光洁，不要有遮挡物，这样测试结果才真实可信。


SAXS

SAXS又称为小角x射线散射，如果试样具有不同电子密度的非周期性 结构(晶区和非晶区)，则x射线被不相干 散射，有波长的改变，这种过程称为漫射x射线衍射效应(简称散射)，在小角度上测定所以又称为：小角x射线散射 (SAXS)。


WAXD

WAXD又称为大角X射线衍射，如果试样具有周期性结构(晶区)，则x射线被相干散射，入射光与散射光之间没有波长的改变， 这种过程称为x射线衍射效应，在大角度上测定：又称为大角X射线衍射（WAXD）

 

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