【摘要】 本文系统介绍了电芯测试的完整体系,涵盖性能、安全、环境与寿命测试,针对电芯常见异常如容量衰减、内短路、析锂等问题,提供了从无损检测(CT、超声波)到破坏性分析(SEM、ICP、XPS)的多手段排查方法,并附文献DOI参考,助力电芯失效分析与研发优化。

电芯检测-科学指南针
电芯测试并非单一的检测流程,而是一套覆盖 “性能、安全、环境、寿命” 的完整体系,每种测试方法都有其独特的技术逻辑和应用场景。
电芯测试研发经常会遇到的场景是:
1. 失效原因复杂,涉及多领域知识,初期易无头绪;
2. 分析方法(如超声、SEM、EIS等)和数据解读分散,整合耗时;
3. 很多技巧依赖经验,缺乏标准化传递,新人易重复踩坑。
针对电芯常见异常,可通过无损分析手段(如CT、超声波检测等)初步定位问题;辅以破坏性分析方法(电镜、ICP、同步热分析等)深入探究根源;同时结合循环伏安法、EIS、DQ/DV、三电极、XPS等电化学与表面表征技术,再配上实际案例,就能为电芯失效分析提供清晰的方法指引,提升分析效率。
电芯常见异常原因总结

电芯常见异常原因分析总结
电芯异常排查步骤

电芯常见异常排查分析
常见电芯检测表征手段(附文献 DOI)

常见电芯检测表征手段表1

常见电芯检测表征手段表2
电池可逆容量衰减
可逆容量衰减的三类常见行为及成因
一、正常循环衰减
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材料结构变化:正极材料出现晶格畸变,负极石墨层间结构发生改变
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SEI膜过度生长:既消耗活性锂,又会增加界面阻抗
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析锂:锂离子在负极表面不均匀沉积,形成金属锂枝晶,导致活性锂损失
二、循环容量跳水
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过渡金属溶出:如正极中的Ni、Co等金属离子溶解,破坏材料结构与电化学活性
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锂枝晶生长:枝晶可能刺穿隔膜引发内短路风险,同时消耗活性锂
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SEI膜过度生长
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内短路:电芯内部正负极直接接触,造成容量快速损失
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电解液失效:电解液分解、浓度降低,影响离子传输效率
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粘结剂失效:极片活性物质脱落,导致导电网络被破坏
三、存储容量衰减
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漏液:电解液泄漏导致离子传输介质减少
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自放电:电芯内部发生副反应,消耗活性物质
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内短路
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过渡金属溶出
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析锂
电池容量衰减排查分析

电池容量衰减排查分析
在面对电芯常见异常时,需遵循系统的分析流程。首先通过外观检查初步判断物理损伤;接着利用无损检测手段,如剩余容量测试、EIS、CT、超声波测试等定位异常;最后开展破坏性测试,借助三电极测试、电芯拆解、极片多手段分析(XRD、ICP、XPS 等)、隔膜与电解液分析,探究异常的根源。各类表征方法各有侧重,相互配合,能更精准高效地完成电芯异常分析,为电芯的改进与优化提供有力支撑。
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