【摘要】 大多数GI-XRF测量是使用同步辐射进行的，其中入射x射线束的微小发散简化了计算和测量角度相关的GI-XRF剖面之间的比较。

掠入射x射线荧光(GI-XRF)分析是一种被广泛研究的用于样品平面附近区域的无损结构分析方法。

 

大多数GI-XRF测量是使用同步辐射进行的，其中入射x射线束的微小发散简化了计算和测量角度相关的GI-XRF剖面之间的比较。纳米颗粒的评估和植入硅片的元素深度分析也被进行了。

 

此外，在同步辐射设备中，采用GI-XRF和x射线反射(XRR)相结合的方法分析了ga掺杂ZnO化合物样品和退火前后原子谱的演变。利用同步加速器设备研究了GI-XRF定量。

 

使用GI-XRF分析来研究薄二元金属层中的合金化现象。采用50 w台式全反射x射线荧光(TXRF)仪器代替同步辐射设备进行薄层分析。

 

Yamada等人[1]使用GI-XRF分析来研究薄二元金属层中的合金化现象。采用50 w台式全反射x射线荧光(TXRF)仪器代替同步辐射设备进行薄层分析。Au-Cu二进制系统应用于各个领域。其中最吸引人的研究是纳米颗粒。对它们的晶体相进行了研究，并报道了相应的相图。

 

AueCu二元体系的相图包括Au3Cu、AuCu和AuCu3合金相;该体系的最低熔点为910℃。为了构造相图，金属元素被混合并在熔炉中熔化。熔炉的温度升高，直到金属熔化，然后冷却。在冷却过程中，测量了液体到固体的热传递。

 

此外，利用x射线衍射(XRD)分析了室温下的晶体结构。在此程序中，即使合金过程发生在提高炉温的第一个过程中，也不会检测到合金过程。合金化发生在两种金属的薄界面上。

 

因此，GI-XRF是检测两薄层交界面元素扩散现象的合适方法。Au和Cu都具有面心立方晶体结构，即使在低于其熔点的温度下也可能发生合金化。

 

[1] Yamada T , Takahara H , Ohbuchi A ,et al.Observation of Au Cu alloying by grazing-incidence X-ray fluorescence[J].Spectrochimica Acta Part B Atomic Spectroscopy, 2018, 149:S0584854717305864-.

 

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