【摘要】 假设不同种类氢化物形式的存在在Pd-Ag晶格中更明显，其中氢在晶格中的位置差异更明显。

钯基膜对于诸如氢的分离和纯化的技术过程是重要的。为了避免氢脆，通常制造Pd和Ag的合金。事实上，由于其晶格膨胀，氢化的Pd膜在一定的α↔β氢化物转化循环后变得易碎。相反，在钯银合金中，晶格已经被银原子扩大，受氢的影响较小，因此比纯钯的脆性小。

 

与Ag的合金化也改善了机械性能和透氢性。事实上，抗拉强度和渗透性都显示出用于膜应用的商业Pd合金中的Ag含量在20-40 wt%范围内的最大值。同样值得注意的是，非氢化钯银合金的电阻率在20-40 wt%范围内达到最大银含量。

 

假设不同种类氢化物形式的存在在Pd-Ag晶格中更明显，其中氢在晶格中的位置差异更明显。基于TPD和电阻率测量的实验研究用于解释25-200℃温度范围内Pd-Ag箔电阻率的S形特征曲线[1]，显示存在两种不同的氢化物，其转化开始于约70℃。

 

在低温下，存在微弱的氢吸收，主要在四面体位置。在更高的温度下，直到150℃出现更强的吸收，氢主要存在于八面体位置。从这些氢化物形式对基质金属晶格的影响的角度，讨论了电阻率和最小值在90和110℃之间的行为。

 

这是通过在真空中结合TPD和电阻率测量的新方法实现的，从而为钯银合金中氢的相互作用和温度稳定性提供了新的见解。由于这一点，我们能够在真空/解吸过程后的剩余固有电阻率、晶格内氢的存在及其在氢气氛中获得的电阻率的整体演变中的作用之间建立关系。

 

[1]Pozio A, Jovanovic Z, Tosti S. Hydrogen Absorption in Pd-Ag Systems: A TPD and Electrical Resistivity Study[J]. Materials. 2019, 12(19): 3160.

 

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