【摘要】 但迄今为止，还没有可行的技术可以取代XRD。

x射线衍射(XRD)是表征纳米材料的通用技术。x射线衍射图案是每种材料中周期性原子排列的指纹。许多显微镜和光谱技术，如透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)、傅里叶变换红外光谱(FTIR)、拉曼光谱和紫外-可见光谱被广泛用于研究材料的性质，但迄今为止，还没有可行的技术可以取代XRD。

 

这项技术提供了关于材料鉴定的重要信息，并提供了诸如相鉴定、样品纯度、微晶尺寸、晶格参数、X射线密度、阳离子分布和应变等信息。它还提供有关晶体结构、阳离子分布、优选晶体取向和其他结构参数的信息，如平均微晶尺寸、应变和晶体缺陷。还可以实现材料中优选取向的量化。使用XRD图案，可以确定所制备样品的制备材料的组成和结晶度。材料的各种性质和应用取决于样品的晶体结构。铁氧体纳米颗粒的性质高度依赖于合成过程中的实验条件，例如使用不同的前体、温度、压力、pH值、时间、取代或掺杂合适的阳离子，因为这些条件对四面体和八面体位置上的阳离子分布有很大影响。掺杂外来离子可以改善铁氧体的各种性能。

 

由于铁氧体中存在的这些外来离子和离子阳离子的半径不同，晶格产生应变，并导致材料的结构和其他参数发生变化。此外，掺杂引起铁氧体结构的不对称，导致材料的结晶度降低[1]。

 

[1] Jain, R. A Review on the Development of XRD in Ferrite Nanoparticles. J Supercond Nov Magn. 2022, 35, 1033-1047.

 

科学指南针为超过3000家高校和企业提供一站式科研服务。截止2021年6月：服务1049家高校、2388家企业，提供249所高校研究所免费上门取样服务，平均每天处理样品数5000+、 注册会员数18w+、平均4.5天出结果、客户满意度超过98%。