【摘要】 垂直平面方向的玻恩电荷随层数变化明显，可能是超胞计算中出现镜像电荷，VASP软件目前尚未有效处理这一问题。

过渡金属离子带有负的玻恩电荷，这是价电子的屏蔽效应所致:以二硫化钼为例，价电子对硫原子的势场屏蔽强，对钼原子的势场屏蔽弱，使钼原子的电负性升高，硫原子的电负性下降，从而使硫原子上的一小部分电子转移到钼原子上。垂直平面方向的玻恩电荷随层数变化明显，可能是超胞计算中出现镜像电荷，VASP软件目前尚未有效处理这一问题。单层二硫化钼、二硫化钨和六方氮化硼具有直接带隙，而层数增加至2层或以上时，则变为间接带隙半导体或绝缘体。计算得到的单层和体材料六方氮化硼的带隙与已有文献的数值相近。电子有效质量是带隙之外的另一重要电子性质参数。多层结构和体材料的电子有效质量也相近，均与单层的计算结果有较大差别。有效质量上的计算差异可能与单层到多层以及体材料时直接带隙到间接带隙的转变有关。单层和双层材料的介电常数、玻恩有效电荷和有效质量等本征属性计算结果与现有文献相符。目前尚未有这些多层材料的数据的报道。单层、多层和体材料的这些物理量对材料的输运和光学性质研究有非常大的作用。最后，通过对单、双层二硫化钼、二硫化钨及其组合而成的异质结进行了声子谱计算，得到了所有的光学模和声学模的声子色散关系。发现层数增加时平面内的光学模频率均有提高，且极性模比非极性模频率提高更多。从长程库仑作用和范德瓦尔斯相互作用角度分析了在层数增加时极性光学模和非极性光学模的变化差异。

 

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