紫外光电子能谱UPS

1.UPS数据分析导体可以测试分析得到样品功函数，价带结构，费米能级默认是0eV。

2.导电性好的半导体样品可以测试分析得到样品功函数和价带顶位置及价带结构。

3.导电性差的半导体或者绝缘体可以测试分析得到样品价带顶位置。

更多测试要求请咨询客户经理;

测试结果一般给出的是excel格式原始数据，可以提供教程自行作图分析。

1. 样品状态：薄膜，样品平面尺寸一般要求5*5mm，最大不超过8*8mm，可以为正方形或者长方形，厚度最好不要超过1mm，样品要求具有一定导电性。

2.粉体样品需要制备为薄膜，具体制备方法及要求如下：先把粉末样品分散在水或乙醇里（浓度尽量低点），滴在硅片上烘干，可以多循环几次，一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁，硅片尺寸5*5mm-5*8mm，厚度几百μm，涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可（膜层厚度10-50nm即可），膜层的电阻最好小于10兆欧，最大不能超过30兆欧。