注意：临近假期，样品多机时少，测试周期有所延长，粉末样品暂时接不了，有问题请联系当地项目经理
1、样品最好是新鲜干燥的薄膜、块体材料，表面平整无污染，尺寸必须大于5*5mm-小于10*10mm左右，厚度小于2mm。UPS的光斑大小3mmX3mm,如果因样品尺寸不符合要求导致收集到样品托或者其他位置的信息，需要同学承担责任。
2、UPS测试表面1-2nm信息，表面吸附的碳氧会影响测试结果，建议暴露空气中的样品选择用离子源清洁后测试，数据更加准确。
2、如果使用旋涂法制备样品要求是基材材质为ITO、FTO、单晶硅片等半导体材料，尺寸必须大于5*5mm-小于等于10*10mm左右，厚度小于2mm，涂完膜干燥后能看到薄薄一层样品即可。
3、粉末样品需要制样，粉末颗粒直径最好在1万目以下，摸起来类似面粉，越细越好。使用压片制样或者旋涂法制样，需要制备1cmX1cm的薄片，请提供2ml体积的样品量。若压片样品的性质发生变化，不建议测试。
4、如果测试目的是功函数，要求样品的导电性比较良好，电阻小于3千欧。
5、粉末样品如非必要不建议测试。
1.UPS数据分析导体可以测试分析得到样品功函数，价带结构，费米能级默认是0eV。
2.导电性好的半导体样品可以测试分析得到样品功函数和价带顶位置及价带结构。
3.导电性差的半导体或者绝缘体可以测试分析得到样品价带顶位置。
更多测试要求请咨询客户经理;
1. 样品状态：薄膜，样品平面尺寸一般要求5*5mm，最大不超过8*8mm，可以为正方形或者长方形，厚度最好不要超过1mm，样品要求具有一定导电性。
2.粉体样品需要制备为薄膜，具体制备方法及要求如下：先把粉末样品分散在水或乙醇里（浓度尽量低点），滴在硅片上烘干，可以多循环几次，一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁，硅片尺寸5*5mm-5*8mm，厚度几百μm，涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可（膜层厚度10-50nm即可），膜层的电阻最好小于10兆欧，最大不能超过30兆欧。
测试结果为什么跟文献或者预期有偏差？
第一，由于UPS测量中光激发电子的动能在0-20eV范围，在此能量区间的电子逃逸深度较小，且随能量急剧变化，材料表面的导电性、污染程度和粗糙度等因素会对测量结果产生较大影响，轻则导致谱图的峰位移动和峰形变化，重则导致无信号。UPS适用于分析表面均匀洁净的导体以及导电性较好的半导体薄膜材料。对于合成的粉末样品，影响因素较多，UPS测试存在一定风险 ； 第二，UPS测试过程中，紫外光的扫描范围仅为样品中的某个微小区域，如果样品制备不均匀，或者测试区域恰好条件不佳，也可能会影响测试结果；
测试老师给出的数据分析结果准确吗，是否可以调整？
测试老师给出的只是分析结果仅供参考，因为测试老师不知道每个样品具体是什么材料，只能根据自己的习惯和经验大致作图分析，所以我们一般还需要根据对样品性质的了解，对数据分析结果微调甚至大的调整。
测试结果一般给出的是excel格式原始数据，可以提供教程自行作图分析。
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