紫外光电子能谱UPS
仪器负责人

刘老师
400-831-0631

预约须知

要求是基材尺寸5*5mm-5*8mm,厚度一两个毫米,涂完膜干燥后能看到薄薄一层样品即可,膜层的电阻最好小于10兆欧,最大不能超过30兆欧样品

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紫外光电子能谱UPS
测试项目:

UPS可以测试样品功函数和价带位置。

更多测试要求请咨询客户经理;


样品要求:

1. 样品状态:薄膜,样品平面尺寸一般要求5*5mm,最大不超过8*8mm,可以为正方形或者长方形,厚度最好不要超过1mm,样品要求具有一定导电性。

2.粉体样品需要制备为薄膜,具体制备方法及要求如下:先把粉末样品分散在水或乙醇里(浓度尽量低点),滴在硅片上烘干,可以多循环几次,一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁,硅片尺寸5*5mm-5*8mm,厚度几百μm,涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可(膜层厚度10-50nm即可),膜层的电阻最好小于10兆欧,最大不能超过30兆欧。


常见问题及回答:

测试结果为什么跟文献或者预期有偏差?

第一,由于UPS测量中光激发电子的动能在0-20eV范围,在此能量区间的电子逃逸深度较小,且随能量急剧变化,材料表面的导电性、污染程度和粗糙度等因素会对测量结果产生较大影响,轻则导致谱图的峰位移动和峰形变化,重则导致无信号。UPS适用于分析表面均匀洁净的导体以及导电性较好的半导体薄膜材料。对于合成的粉末样品,影响因素较多,UPS测试存在一定风险 ; 第二,UPS测试过程中,紫外光的扫描范围仅为样品中的某个微小区域,如果样品制备不均匀,或者测试区域恰好条件不佳,也可能会影响测试结果;

测试老师给出的数据分析结果准确吗,是否可以调整?

测试老师给出的只是分析结果仅供参考,因为测试老师不知道每个样品具体是什么材料,只能根据自己的习惯和经验大致作图分析,所以我们一般还需要根据对样品性质的了解,对数据分析结果微调甚至大的调整。

结果展示:

测试结果一般给出的是excel格式原始数据,可以提供教程自行作图分析。