原位断层光谱

原位断层光谱测试可获得薄膜断层透射光谱、吸收光谱、反射光谱、荧光光谱、红外光谱、拉曼光谱等。可根据断层光谱模拟出薄膜中的组分分布、能级分布、激子分布、电荷分布，从而揭示薄膜中光学作用和电荷输运的机制。

原位断层光谱测试可得到刻蚀光谱图、亚层光谱图、组分分布图、激子分布云图、激子垂直分布图。

1、尺寸要求：样品平面尺寸大于0.5 平方厘米；

2、波长分辨率：0.4nm；紫外可见波长范围：190-1100nm；

3、样品状态：如果您的器件是半透明的，可直接准备不覆盖无机层的“半器件”用于测试。例如，如果您关心的器件为ITO/PEDOT/Active layer/PDINO/Ag，那么可以利用ITO/PEDOT/Active layer/PDINO进行测试。如果您关心的器件是不透明的，可使用断层反射光谱测试。

4、适用于所有有机薄膜，厚度范围2nm -10µm；对部分无机薄膜或者有机无机杂化薄膜有效；对于平整均匀薄膜，断层光谱的垂直空间分辨率优于1 nm；对于不均匀薄膜，因为薄膜自身的不均匀性导致空间分辨率会下降。