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原位XPS
98.4%
好评率
仪器型号
PHI、美国Thermofisher 等
已测试样品
3030个
常规周期
6个工作日
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部分论文致谢
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项目简介
原位XPS测试通过在变温、通气、辐照等原位条件下测试xps图谱，通过XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学价态和分子结构等信息，从峰强可获得样品表面元素含量
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样品要求
1. 粉末样品提供50mg，量少请用称量纸包好再装到管子里寄送；
2. 块状/薄膜：长宽厚不超出5*5*10mm；
3. 测试说明：原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号！元素窄谱测试默认测最强峰轨道，H、He元素不可以测试，元素Li-Mg测试1s轨道，Al-Zn测试2p轨道，Ga-Dy测试3d轨道，Ho-Lu测试4d轨道，Hf-Cm测试4f轨道。如有特殊要求请备注；
4. 样品要充分干燥，干燥不充分的样品、多孔材料、样品尺寸比较大的，抽真空时间会相对比较长；
常见问题
1. 每种元素的检测限一样么？
不一样。每种元素的主峰的灵敏度因子都不一样。
2. 样品精细谱扫出谱峰？为什么全谱里没有呢？
全谱主要是用来定性分析的，设置参数的步长比较大，含量低的在全谱里扫不出谱峰。但是精细谱扫出谱峰就表示有该元素。
3. XRD能测到，为什么xps测不到？
XRD是本体分析，XPS是表面分析，两者获得的成分信息深度不同，没有可比性。
