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微波网络矢量分析仪/矢量网络分析仪
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部分论文致谢
项目简介
矢量网络可以测试电磁屏蔽和吸波性能。
电磁屏蔽计算主要用S参数，吸波效率计算用电磁参数。
{{moduleItem.modulename}}
结果展示
结果里一般都含有两个文件：txt文件和prn文件 或者 s2p文件和prn文件 或者s2p文件和excel文件，所有文件都可以用记事本直接打开。txt或者s2p文件是s参数；prn文件或者excel文件是电磁参数。电磁屏蔽计算主要用S参数，吸波效率计算用电磁参数。
或
或
txt文件或者s2p文件（用txt打开）：S参数（s11r s11i；s21r s21i；s12r s12i；s22r s22i。r代表实部，i代表虚部。）
prn文件（用TXT打开）或者excel文件：电磁参数（e'、 e''；u'、u''这四组数据就是电磁参数，也就是介电常数实部，介电常数虚部；磁导率实部，磁导率虚部。）
样品要求
1，粉末样品测试需要用同轴法，粉末样品至少200mg（不需要提供石蜡）；
2，块体样品测试同轴法，要求 外7 内3.04 厚2mm的同轴环；
3，块体样品测试波导法，不同范围对应不同尺寸，具体如下：
1.13-1.73GHz：82.4*164.8*(10.0-35.0) mm
1.72-2.61 GHz：54.46*108.92*(8.0-12.0) mm
2.60-3.95 GHz：33.89*71.84*(8.0-12.0) mm
3.94-5.99 GHz：22.0*47.25*(8.0-12.0) mm
5.38-8.17 GHz：15.75*34.70*(2.0-6.0) mm
8.2-12.4GHz：22.9*10.2*(2.0-6.0)mm
12.4-18.0GHz：15.9*8.03*(2.0-4.0)mm
18.0-26.5GHz：10.95*4.5*(2.0-4.0)mm
26.0-40.0GHz：7.15*3.60*(2.0-4.0)mm；
4，块体样品测试弓形法，要求 180*180mm，300*300mm，600*600mm三个尺寸中的一种（直接测吸波效率的，测不了电磁参数）。
5，SPDR 接受块体样品，测试需要厚薄均匀，介电常数＞20，
尺寸具体如下（长宽/直径范围，厚度）：
1G：110-190mm，3mm
2.5G：60-120mm，3mm
3G：50-120mm，3mm
5G：50-100mm，1.6mm
10G：30-100mm，1mm
15G：20-100mm，0.5mm
20G：20-40mm，0.5mm
28G：20-40mm，0.5mm
39G：20-40mm，0.5mm
6，准光腔：测试需要厚薄均匀，介电常数<20，长＞40mm,宽＞40mm，厚度＜1mm
常见问题
1. 薄膜样品是否可以测试？
根据频率确定测试方法，但是鉴于薄膜样品的情况，一般适合用波导法测试，厚度要求不是很严格，需要自己测量好薄膜的厚度。
2. 粉末测试时，和石蜡的掺杂比怎么确定？
这个最好根据自己的样品成分，参考文献来确认。不同样品合适的掺杂比例不同。一般测试时，也很难做到一个掺杂比例就可以得到比较好的测试结果，可能需要根据一个比例的测试结果，来调整掺杂比例，以获取更优的测试结果。但是一般样品的比例太高的话，不一定能制成同轴环，所以可能制样不成功，无法测试。
3. 为什么有的介电常数是负值？
一般可能是因为试样的浓度太高了（即和石蜡掺杂时，样品的比例太高），基本上快成导体了，已经形成导电通道了，介电数据异常了，不过可以看S参数计算屏蔽效能。这时候材料就只有屏蔽效果了，没有吸波性能了，和金属板差不多了，超过预设阈值了，有导电通道了，不适合这个仪器测试范围了。这种情况，一般建议调整降低样品的比例。
4. 磁导率的虚部为什么是负值？
5. 介电测试/宽频介电测试/变温介电测试与微波网络矢量分析仪/矢量网络分析仪测试有啥区别，该如何选择？
答：区别主要如下：
| 关键维度 | 介电测试/宽频介电测试/变温介电测试 | 矢量网络分析仪测试 |
| 核心目标 | 材料本征特性： • 介电常数（ε） • 介质损耗（tanδ） • 电导率 |
系统级电磁响应： • 传输/反射特性（S参数） • 阻抗匹配 • 相位稳定性 |
| 适用频率范围 | 低频主导： • DC ~ 10 MHz（常规） • 最高至 GHz（需专用夹具） |
高频主导： • 100 kHz ~ 1.1 THz（主流设备） • 尤其擅长 > 1 MHz 场景 |
| 典型样品类型 | 材料本体： • 块体/薄膜/液体电介质（如陶瓷、聚合物、绝缘油） |
电路/器件： • PCB、天线、滤波器 • 连接器、电缆 • 封装结构 |
| 高频材料分析 | 需复杂夹具（如平行板、同轴探头） • 精度受边缘效应/接触阻抗影响大 |
直接适用： • 非接触测量（自由空间法） • 校准后误差 < 1% |
| 低损耗测量 | 优势场景： • 超低tanδ（如石英、PE）测量精度高 |
受限系统噪声和校准精度 • 极低损耗（tanδ < 0.001）易被噪声掩盖 |
| 多端口网络分析 | 不支持 • 仅单端口或双电极测量 |
核心功能： • 多端口S参数（S11/S21/S12/S22） • 分析复杂互连系统 |
| 时域分析 | 不直接支持 | 关键功能： • TDR（时域反射计）定位阻抗突变点 • 故障诊断（如PCB断线） |
| 典型场景案例 | • 电容器介质选型 • 绝缘材料老化检测 • 液晶分子取向研究 • 生物组织介电谱 |
• 5G天线辐射效率优化 • 高速SerDes链路完整性验证 • 微波滤波器设计 • 雷达吸波材料评测 |
