小角散射数据分析

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      项目简介

      小角X射线散射(SAXS)和掠入射小角X射线散射(GISAXS)是分析1nm-0.1µm结构的强有力手段。对于诸如聚合物、蛋白质溶液、液晶、表面特性、粉末、块状样品以及薄膜等各种样品,这两种测试方法不仅能够提供纳米颗粒粒度、形状以及粒度分布的信息,还能提供结构动力学信息。

      结果展示

      一维计算分形、Porod曲线、Krakky方程和劳伦兹曲线;

      二维可以计算原始散射、距离分布函数(PDDF)、回转半径、相关函数、特征函数、Kalaty方程、二维作图、分形等。

      可以得到的数据如下所示:

      1.  散射曲线图、分形维数(Dm;Ds)、α值

      2. 散射体的粒径分布(PDDF)

                   

      3.  界面信息、均匀程度(Porod曲线)

                   

      参考文献:Chinese Physics C Vol. 37, No. 10 (2013) 108002. DOI: 10.1088/1674-1137/37/10/108002.

      4. 回转半径(Rg)。

      Eg:回转半径测试结果为nm级别;

      5. 相关函数。

      6. Kalaty方程

      7. SAXS二维图,需要二维数据。

                   

       

      其他需求可详细咨询,程老师:13003403365.

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      提供测试仪器型号、探测器型号、测试距离、原始数据,下单前请提前沟通需求~

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