单颗粒ICP-TOFMS

单颗粒电感耦合等离子体质谱的高通量单颗粒分析方法，可以同时确定数千个（各向同性和各向异性）纳米颗粒的大小、数量和元素组成，而不受组成、大小、形状和分散介质的影响。该方法通过将高度稀释的溶胶直接引入ICP-MS仪器的等离子体火炬中，使单个纳米颗粒被雾化和离子化，形成可以被质谱仪检测到的离子束。

测试基本原理如下：

1. 将未消化的纳米颗粒分散液雾化并直接引入等离子体火炬中。

2. 雾化后的颗粒被脱溶、蒸发、原子化和电离，并以离散的离子包或离子群的形式到达质谱分析器，保留了每个颗粒的元素信息。

3. 在探测器上，离子群或颗粒事件的到达会引起信号强度的突变，与溶解离子的强度或背景信号不同，后者保持恒定。

4. 为了区分这些离散的颗粒事件和溶解离子，需要比传统的ICP-MS更短的停留时间（微秒到毫秒级）。

5. 每次强度读数的采集都会与采集时间绘制在一起，表示单颗粒电感耦合等离子体质谱的原始数据。