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同步辐射GISAXS、GIWAXS
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仪器型号
同步辐射光源
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37次
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收到样品后平均2.6-8.6工作日完成
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项目简介
GISAXS/GIWAXS常用于分析薄膜、电池等材料的分子取向和晶体取向，是研究精细结构和分子堆积的重要方法。
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结果展示
原始dat数据及下图：
样品要求
直径1cm，基底最好为硬质无机基片，薄膜分布均匀。
常见问题
1. 为什么要测同步辐射GIXS（GISAXS/GIWAXS）
首先，材料生长在薄膜上，在薄膜上是有取向的，只能用掠入来测量；其次，材料不足，也不够厚；最后，利用同步辐射光可以明显提高灰度/强度，相比普通X射线，能更清晰地观察到取向性。
