同步辐射小角散射(SAXS)-科学指南针

项目简介

同步辐射SAXS/WAXS/GISAXS/GIWAXS可探测样品内电子密度起伏，研究样品内缺陷和颗粒的尺寸、形状及其分布密度，是研究精细结构和分子堆积的重要方法。

结果展示

案例1：SAXS、GIWAXS和TEM三项表征联用，系统地研究材料的取向结构。（Adv. Funct. Mater. 2022, 32, 2202057）

案例2：材料的孔径分析和表面的分形特征分析。（煤炭学报,2014,39(4):719-724.）

样品要求

样品要求：可以测试粉末、薄膜、块体、液体均可以，粉末20mg、薄膜长宽1cm、块体长宽1cm（基底最好为硬质无机基片），液体2ml。

常见问题

1. 为什么要测同步辐射GIXS（GISAXS/GIWAXS）

首先，材料生长在薄膜上，在薄膜上是有取向的，只能用掠入来测量；其次，材料不足，也不够厚；最后，利用同步辐射光可以明显提高灰度/强度，相比普通X射线，能更清晰地观察到取向性。

2. 小角X射线散射（Small Angle X-ray Scattering)和小角X射线衍射(Small angle x-ray diffraction)是一回事吗？

X-射线照射到晶体上发生相干散射（存在位相关系）的物理现象叫衍射，即使发生在低角度也是衍射。例如，某相的d值为 31.5Å，相应衍射为2.80°（Cu-Kα），如果该相有很高的结晶度，31.5Å峰还是十分尖锐的。薄膜也能产生取决于薄膜厚度与薄膜微观结构的、集中在小角范围内的 X 射线衍射。在这些情况下，样品的小角X射线散射强度主要来自样品的衍射，称之为角X射线衍射。

X-射线照射到超细粉末颗粒（粒径小于几百埃，不管其是晶体还是非晶体）也会发生相干散射现象，也发生在低角度区。但是由微细颗粒产生的相干散射图的特征与上述的由超大晶面间距或薄膜产生的小角 X 射线衍射图的特征完全不同。

小角衍射，一般应用于测定超大晶面间距或薄膜厚度以及薄膜的微观周期结构、周期排列的孔分布等问题；小角散射则是应用于测定超细粉体或疏松多孔材料孔分布的有关性质。