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辉光放电-光纤光谱仪在测定水和矿石样品中汞含量分析系统中的应用

As、Cr、Pb、Cd和Hg等重金属对天然水域的污染一直是一个严重的问题。

GD-OES/MS

2023-08-21

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二次离子质谱法揭示聚偏氟乙烯固体聚合物电解质结构

聚偏氟乙烯(PVDF)能促进聚合物结构中锂盐的解离，这与许多其他聚合物相比是一个很大的优势。

TOF-SIMS测试

2023-08-21

211

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一文了解DSIMS：原理、仪器结构和应用

在高真空环境下，一次离子由锑或氧离子源产生（Cs⁺或O2⁺）加速、净化和聚焦后，用一定的能量轰击样品表面微区域，使样品表面溅射各种颗粒（中性原子或分子、带正负电的原子、分子和离子）。

D-SIMS

2023-08-07

239

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一文读懂D-SIMS

动态-二次离子质谱（D-SIMS）用气体等离子源轰击样品，溅射样品表面的原子、分子或离子，用质量分析师接收溅射的二次离子，通过比较其质量荷比（m/z)获得二次离子质谱。因为D-SIMS的离子源是高密度离子束(原子剂量>1012ions/cm2)，对样品溅射有很大的影响，所以是一种毁灭性的分析。

D-SIMS

2023-08-07

197

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二次离子质谱大科普！TOF-SIMS及D-SIMS实例分析

Secondary-ion-massspectroscope（SIMS）它是一种基于质谱的表面分析技术，二次离子质谱原理是基于离子与样品表面相互作用的现象。

TOF-SIMS测试

2023-08-04

391

0

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