同步辐射GISAXS、GIWAXS

      电话:400-831-0631

      项目简介

      结果展示

      样品要求

      常见问题

      立即预约

      同步辐射GISAXS、GIWAXS

      96.6%

      好评率

      仪器型号 同步辐射光源
      预约次数 29次
      服务周期 30.2个工作日
      立即预约
      专业可信赖
      硕博顾问团队
      信用支付
      先测试后付费
      高性价比
      保质又低价
      做实验送积分
      积分可兑京东卡等
      报销无忧
      正规合同发票

      项目简介

      GISAXS/GIWAXS常用于分析薄膜、电池等材料的分子取向和晶体取向,是研究精细结构和分子堆积的重要方法。

      结果展示

      原始dat数据及下图:

      样品要求

      直径1cm,基底最好为硬质无机基片,薄膜分布均匀。

      常见问题

      1. 为什么要测同步辐射GIXS(GISAXS/GIWAXS)

      首先,材料生长在薄膜上,在薄膜上是有取向的,只能用掠入来测量;其次,材料不足,也不够厚;最后,利用同步辐射光可以明显提高灰度/强度,相比普通X射线,能更清晰地观察到取向性。

      现在注册立即送首样优惠券,最高可优惠200元!
      立即注册
      投诉建议
      亲爱的用户,您也可以直接拨打我们的官方电话:400-831-0631,我们将及时为您解答问题
      问题类型*
      测试售后
      网站功能
      开票报销
      其他
      反馈内容*
      收件邮箱
      上传附件
      上传附件
      选择一个文件,允许的文件类型
      jpg,jpeg,png,gif,tif,doc,docx,ppt,pptx,xls,xlsx,pdf,zip,rar

      删除

      确认提交