同步辐射GISAXS、GIWAXS

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      同步辐射GISAXS、GIWAXS

      仪器型号:
      同步辐射光源
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      项目简介

      GISAXS/GIWAXS常用于分析薄膜、电池等材料的分子取向和晶体取向,是研究精细结构和分子堆积的重要方法。

      结果展示

      原始dat数据及下图:

      科学指南针也提供XPS数据分析服务!如果您需要XPS数据分析与作图服务,请拨打官方客服热线400-831-0631。

      样品要求

      直径1cm,基底最好为硬质无机基片,薄膜分布均匀。

      常见问题

      1. 为什么要测同步辐射GIXS(GISAXS/GIWAXS)

      首先,材料生长在薄膜上,在薄膜上是有取向的,只能用掠入来测量;其次,材料不足,也不够厚;最后,利用同步辐射光可以明显提高灰度/强度,相比普通X射线,能更清晰地观察到取向性。

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