俄歇电子能谱AES

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      仪器型号 PHI710;PHI680
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      项目简介

      AES测试表面谱图点扫;深度刻蚀;Mapping;线扫

      结果展示

      1. AES SEI成像+能谱图+元素定性半定量分析

         

        图片.png

      2. AES俄歇成分成像 (MAPPING)

        图片.png

      3. AES深度剖析曲线

        图片.png

      样品要求

      样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性,无磁性,无挥发性等; 固态样品:片状、块状或粉末。 另外在样品的保存和传送过程中应尽量避免样品表面被污染。在任何时候, 对被分析样品的表面都应尽量少地接触和处理。


      建议:样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装。

      常见问题

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