俄歇电子能谱AES
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仪器型号
PHI710;PHI680
预约次数
39次
服务周期
平均11.6个工作日完成
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项目简介
AES测试表面谱图点扫；深度刻蚀;Mapping;线扫
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结果展示
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AES SEI成像+能谱图+元素定性半定量分析
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AES俄歇成分成像 （MAPPING)
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AES深度剖析曲线
样品要求
样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性，无磁性，无挥发性等； 固态样品：片状、块状或粉末。 另外在样品的保存和传送过程中应尽量避免样品表面被污染。在任何时候， 对被分析样品的表面都应尽量少地接触和处理。
建议：样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装。
常见问题
