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      离子减薄

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      离子减薄

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      仪器型号 Gatan691、Fischion 1051、Gatan 695等
      预约次数 764次
      服务周期 收到样品后平均10.1-18.0工作日完成

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      项目简介

      离子减薄常用于材料科学研究中,离子减薄的基本过程是通过高能离子束轰击样品表面,将样品表面原子层逐层剥离,进而得到具有高度平坦度和厚度均匀的材料薄片。减薄后的样品可以应用各种表征,比如扫描电镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、XRD等。

      离子减薄过程一般分为穿孔和修整薄区两步。离子束以较大入射角在样品上击穿一个中心孔,然后用较小的入射角度和较低能量的离子束在穿孔边缘进行修整。

       

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      样品要求

      样品状态:块体、薄膜、陶瓷、金属片等;

      样品要求:样品直径大于等于3mm,样品厚度最好可以磨到 30 um左右,如需要切割,抛磨会加收费用。

      离子减薄样品最终状态:一般是直径 3 mm,厚度在30 μm以内;

       

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