同步辐射XRD、SAXS
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仪器型号
同步辐射光源
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项目简介
- 同步辐射XRD常用于结构分析，物相鉴定，与常规X光相比，同步辐射光波长在大范围内连续可调，且准直性好，研究的尺度范围和分辨均优于常规X光。
- 同步辐射SAXS可探测样品内电子密度起伏，研究样品内缺陷和颗粒的尺寸、形状及其分布密度。
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结果展示
同步辐射XRD的结果为txt原始数据，需自行做图：
SAXS的原理能用布拉格定律2dsin=n来解释，具体的应用场合则因为入射射线的本质和被检测样品的本质不同而有所区别。结果为原始数据，可沟通做二维图，以下图二维图为例：
Lv Q , Li Z . Et al. Philosophical Magazine Letters. 2021
样品要求
XRD可以测粉末样品请准备至少20mg，0.1g以上最好。需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；块状样品要求长宽1-2cm（一般不小于1cm），厚度5mm以下。
SAXS可以测试粉末、薄膜、块体、液体均可以，粉末20mg、薄膜长宽1cm、块体长宽1cm越薄越好，液体2ml。
常见问题
1. 小角X射线散射（Small Angle X-ray Scattering)和小角X射线衍射(Small angle x-ray diffraction)是一回事吗？
X-射线照射到晶体上发生相干散射（存在位相关系）的物理现象叫衍射，即使发生在低角度也是衍射。例如，某相的d值为 31.5Å，相应衍射为2.80°（Cu-Kα），如果该相有很高的结晶度，31.5Å峰还是十分尖锐的。薄膜也能产生取决于薄膜厚度与薄膜微观结构的、集中在小角范围内的 X 射线衍射。在这些情况下，样品的小角X射线散射强度主要来自样品的衍射，称之为角X射线衍射。
X-射线照射到超细粉末颗粒（粒径小于几百埃，不管其是晶体还是非晶体）也会发生相干散射现象，也发生在低角度区。但是由微细颗粒产生的相干散射图的特征与上述的由超大晶面间距或薄膜产生的小角 X 射线衍射图的特征完全不同。
小角衍射，一般应用于测定超大晶面间距或薄膜厚度以及薄膜的微观周期结构、周期排列的孔分布等问题；小角散射则是应用于测定超细粉体或疏松多孔材料孔分布的有关性质。
