掠入射XRD(GIXRD)

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      仪器型号 Bruker D8
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      项目简介

      掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让×射线略过样品表面的技术,这种技术能够更真实全面地表征出薄膜(特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。测试光是平行光,相对于常规的衍射光来说能量较小,因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息,也不容易测到基底,因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。薄膜尺寸没有特别要求,但是需要测试面平整光洁,不要有遮挡物,这样测试结果才真实可信。

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      样品要求

      样品整体长宽1cm;

      镀层或者薄膜一般厚度不要低于50nm,否则可能测不出信号;

      粉末、液体等其他无法测试。

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