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      双波段发射率测量仪

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      双波段发射率测量仪

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      仪器型号 IR-2
      预约次数 126次
      服务周期 平均7.6个工作日完成

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      双波段发射率

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      样品要求

      仪器是点源测试(即一个点测出一个数据),非全扫描,每样品正常测9次计算得到平均值,

      块体:样品直径3.5--4.8cm的片,厚最好1mm以上,太薄会透射,表面不要太粗糙

      有基底的薄膜样品,薄膜厚度最好10微米以上,太薄了测试基本上不准确

      粉末5g,不建议用粉末测试,误差较大

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