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      形貌分析TEM(只测形貌和衍射)-北京

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      仪器型号 JEM-2100plus
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      项目简介

      本台设备主要拍摄形貌和衍射(可拍到5nm标尺),加速电压200kv,点分辨率0.194nm,放大倍数x 2,000 – 200,000,超高分辨UHR材料极靴,可以打衍射。

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      样品要求

      1. 粉体、液体可测试,薄膜或块状样品不能直接拍摄,请另行预约制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等)

      2. 样品的厚度不超过100nm,如果颗粒稍大一点,可适当研磨至100nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小);

      3. 一般制样选微珊铜网即可,如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样;

      4. 磁性样品不接受自己制样。

      常见问题

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