下单:石英晶体微天平 仪器详情

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      石英晶体微天平

      测试项目:

      石英晶体微天平分析仪是非常灵敏的质量传感器,可在液体与气体中使用。

      可以获得基本的频率变化、质量、厚度等参数,耗散型QCM还可以测量耗散因子、界面流变、构象变化等。耗散因子可以知道石英晶片表面样品的刚性与柔性,可用于计算表面粘度与弹性模量(界面流变)。

      质量测定:测试表面形成的分子层的质量,精度达到毫微克。例如,可检测到1%或更低浓度蛋白质单分子层的结构变化。

      结构变化:同步测试结构变化,因此可以区分两个相似的键合反应或观察到吸附层上发生的相变。

      实时分析:可以进行实时记录和动力学评估。

      无须标记:无须对分子做标记,仪器测定的是分子本身。

      弹性表面选择:适用于任何能形成薄膜的表面如金属、高分子、化学改性表面。

      流量测试:特别涉及的样品池可以在控温环境下进行流量测定。



      样品要求:

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