【摘要】 电子显微镜与光学显微镜的功能都是将细小的物体放大至肉眼可以分辨的程度,工作原理也遵循射线的阿贝成像原理,从这两个意义上来说,两者是相同的。

在做透射电子显微镜(TEM测试)包埋切片时,科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到,大多数同学对包埋切片不是很理解,针对此,科学指南针检测平台团队组织相关同事对网上海量知识进行整理,希望可以帮助到科研圈的伙伴们;

 

电子显微镜与光学显微镜的功能都是将细小的物体放大至肉眼可以分辨的程度,工作原理也遵循射线的阿贝成像原理,从这两个意义上来说,两者是相同的。它们的主要不同点是:

 

(1)电子显微镜使用电子束作为射线源,必须在真空中工作,由于电子波长很短,其分辨率极高。

 

(2)电子波通过物质,遵循布拉格定律,产生衍射现象,可借此对晶体物质进行结构分析。

 

(3)电子显微成像的衬度机理以及电子与物质相互作用提供的信息要比光学显微镜丰富的多,能利用这些信息对物质进行深入分析。

 

传统透射电子显微镜主要是利用高能电子束与薄样作用时产生的弹性散射电子和透射电子来进行成像,而与扫描电子显微镜技术结合而制造出的扫描透射电子显微技术即(STEM)利用非常小的束斑(尤其是球差校正后形成的束斑)进行成像,可以获取更高的空间分辨率和灵敏度。能量过滤技术的引入则可获得电子图像整个能量范围的图像信息,甚至可以进行化学键成像和带隙成像。

 

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