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该设备具有高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。配备X射线能谱仪,能对样品表层的微区点线面元素进行定性及半定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。与一般扫描电镜相比,它能以更高的分辨率观察固体样品表面显微结构和形貌,是研究材料表面结构与性能关系的重要工具。由于分辨率高,为纳米材料的研究提供了可靠的实验手段。可对金属、无机非金属、高分子材料及生物样品等的表面显微结构和形貌进行分析。
1、分辨率:≤0.8 nm;;2、放大倍率:≥80万倍;3、加速电压:0.2-30KV;4、检测器:具有检测SE和BSE信号功能 5、可选配STEM,EDX等附件
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