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预约须知

1. 适用材料范围：
本测试项目主要面向单晶薄膜、外延薄膜类样品，同时也可对单晶、多晶薄片类材料进行高分辨 X 射线衍射表征。

2. 样品基本要求：

可接受样品状态:粉末、块体、薄膜。
粉末样品量要求(最低):30mg
块体/薄膜尺寸要求:长:3mm-100mm;宽:3mm-100mm;高/厚:0-3mm
待测样品需为薄片形态，测试表面需保证平整光洁；针对薄膜类样品，薄膜与衬底之间需具备明显的电子密度差异，且样品表面粗糙度越低，测试效果越理想。

3. 服务内容说明：
该测试仅包含检测与数据采集环节。若需根据测试结果额外进行图谱绘制、数据分析作图等处理，需根据实际需求加收相应费用，具体收费标准及细节可咨询技术老师沟通确认。

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1. 适用材料范围：
本测试项目主要面向单晶薄膜、外延薄膜类样品，同时也可对单晶、多晶薄片类材料进行高分辨 X 射线衍射表征。

2. 样品基本要求：

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高分辨XRD（HRXRD）

测试项目：

高分辨XRD（HRXRD），适用于单晶薄膜样品

样品要求：

样品尺寸要求：厚度小于3mm ，长宽1x1mm²以上，不同尺寸价格不同，长宽4x4mm²以上不需要加价

常见问题及回答：

结果展示：

提供原始数据raw和作图数据asc

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