Micro/Nano/工业 CT
97.5%
好评率
仪器型号
skysCan2211/ZEISS Xradia520/NIKON XTH 225/320
预约次数
201次
服务周期
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硕博顾问团队
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项目简介
CT是一种非侵入性和非破坏性成像技术，在不破坏样品的情况下，利用X射线对物体进行扫描，能够获得样品内部三维结构和形貌信息。纳米、微米CT适用于小尺寸样品高分辨率的检测，分辨率和样品尺寸的对应关系见下表；工业CT适合大尺寸样品检测，320kV强力的微焦点射线源，拥有优秀的解析度与精度，适用于高密度的大型工业样品检测，5轴马达载物台台最大可放置质量100kg的样品。
测试分辨率和对应样品尺寸要求:
| 分辨率 | 高度和直径 （mm） | 分辨率 | 高度和直径（mm） |
| 200nm | 0.7 | 800nm | 3.1 |
| 300nm | 1.1 | 900nm | 3.5 |
| 400nm | 1.5 | 1um | 4 |
| 500nm | 1.9 | 2um | 4 |
| 600nm | 2.3 | X>2um | 2X |
| 700nm | 2.7 | 工业CT: X um | X |
结果展示
样品要求
分辨率：指像素点的大小，比如200nm分辨率，就是图片中一个像素点的大小是边长200nm的正方形；假设想要看到的最小特征尺寸是“x µm”，需要使用至少 “0.5x µm”分辨率。
样品尺寸：样品尺寸越大，能做的分辨率就越低。
| 分辨率 | 高度和直径（mm） | 分辨率 | 高度和直径（mm） |
| 200nm | 0.7 | 800nm | 3.1 |
| 300nm | 1.1 | 900nm | 3.5 |
| 400nm | 1.5 | 1um | 4 |
| 500nm | 1.9 | 2um | 4 |
| 600nm | 2.3 | X>2um | 2X |
| 700nm | 2.7 | 工业CT：X um | X |
常见问题
