下单:Micro/Nano/工业 CT 仪器详情

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      分辨率:指像素点的大小,比如200nm分辨率,就是图片中一个像素点的大小是边长200nm的正方形;假设想要看到最小特征尺寸是x µm”,需要使用至少 “0.5x µm”分辨率

      样品尺寸:样品尺寸越大,能做的分辨率就越低。

      关于数据处理:测试得到的原始数据是几十到几千张二维切面图。简单处理:免费提供原始数据三维图高级数据分析:需要专业3D数据分析软件ORS或者Dragonfly该软件没有破解版,且软件和数据体非常大,需要专业的图像处理工作站,普通电脑难以运行。如果需要处理,会根据相应的需求收据数据处理的费用。


      负责人
      联系方式 查看

      吴老师

      咨询热线

      400-831-0631

      Micro/Nano/工业 CT
      测试项目:

      CT是一种非侵入性和非破坏性成像技术,在不破坏样品的情况下,利用X射线对物体进行扫描,能够获得样品内部三维结构和形貌信息。纳米、微米CT适用于小尺寸样品高分辨率的检测,分辨率和样品尺寸的对应关系见下表;工业CT适合大尺寸样品检测,320kV强力的微焦点射线源,拥有优秀的解析度与精度,适用于高密度的大型工业样品检测,5轴马达载物台台最大可放置质量100kg的样品。

      测试分辨率和对应样品尺寸要求:

      分辨率高度和直径(mm)分辨率高度和直径(mm)
      200nm0.7800nm3.1
      300nm1.1900nm3.5
      400nm1.51um4
      500nm1.92um4
      600nm2.3X>2um2X
      700nm2.7工业CT面议


      样品要求:
      https://shiyanjia-files.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/user/2020110212483218464334705.doc
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